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主營產品:X射線熒光光譜儀

理學波長色散型X射線熒光光譜儀的應用領域

點擊次數:835  更新時間:2022-11-07
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀是用晶體分光而后由探測器接受經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器做同步運動,不斷地改變衍射角,便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度,可以據此進行特定分析和定量分析。
X射線熒光分析技術(XRF)作為一種快速分析手段,為相關生產企業提供了一種檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑;相對于其他分析方法,XRF具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等優點,適合用于各類相關生產企業作為過程控制和檢測使用。
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀是一種掃描型熒光X射線分析儀,具有上照射類型。支持測量和分析,即使初學者也能輕松獲得準確的分析結果。數字計數系統、高速驅動測角儀和優化的控制系統可實現高速、高精度測量。通過人工多層累積膜和真空控制機制,可以測量*輕元素。高規格型號還配備了安全可靠的設計,如人為錯誤預防功能、點映射分析和散射線SQX功能。
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀應用領域:
地質樣品領域:針對地質領域壓片和熔片兩類樣品分別開發了應用方法體系,可以為地質研究、找礦提供可靠的檢測數據。
建材樣品領域:針對多種建材樣品的分析需求,建立了水泥、涂料等樣品應用方法體系,實現對樣品的高精度分析。
新材料樣品領域:能夠解決新材料研究領域寬幅、無損、全元素分布分析的難題。
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